全部分类
半导体制造量检测产品方案
晶圆几何形貌测量系统（WT系列）
晶圆内应力检测仪（SV系列）
晶圆翘曲薄膜应力测量系统（SM系列）
三维测量显微镜
玻璃基板测量系列
精密光学量检测产品方案
自由曲面三维面型检测仪（FF系列）
HUD前挡风玻璃及楔角测试系统
内应力检测仪（SV系列）
三维测量显微镜
高端三维测量显微镜系列（通用型）
白光干涉显微镜系列
查看全部产品
搜索
半导体单晶双折射测量仪
半导体单晶双折射测量仪
半导体单晶双折射测量仪
CSV200-i 是一款专业用于各类单晶材料双折射测量的高精度设备，具备半导体晶圆内应力的定量测量与生产统计功能。搭配EFFM模块，支持不同尺寸晶圆的快速自动化测量，适用于从研发到量产的全流程质量管控。
详情 白箭头 黑箭头
全自动晶圆内应力检测仪 SV-i
全自动晶圆内应力检测仪 SV-i
全自动晶圆内应力检测仪 SV-i
具备晶圆衬底全自动内应力高精度定量测量和生产统计功能
详情 白箭头 黑箭头
晶圆内应力检测仪 Strain Viewer
晶圆内应力检测仪 Strain Viewer
晶圆内应力检测仪 Strain Viewer
具备化合物晶圆和蓝宝石晶圆内应力分布定量测量及缺陷定位筛查的功能
详情 白箭头 黑箭头

地址：太仓市陆渡街道富达路99号智汇谷园区21号楼

客服热线：400-069-8900

客服邮箱：sales@raphaeloptech.com

Copyright © 2023 苏州瑞霏光电科技有限公司 All rights reserved 网站建设：中企动力 昆山 SEO 营业执照

苏ICP备2020053559号-1 苏公网安备32058502811276号
Verification 苏ICP备2020053559号-1